DIAGRAMA V NA COMPREENSÃO DE PARÂMETROS DE CORTE EM USINAGEM NO CURSO TÉCNICO DE ELETROMECÂNICA

Authors

  • Thainá de Aguiar Martins Instituto Federal de Santa Catarina
  • Natália Mattiola da Silva IFSC
  • Suzy Pascoali IFSC
  • Daniel Generoso IFSC

Keywords:

Eletromecãnica, Parâmetros de corte, Diagrama V

Abstract

A usinagem é de suma importância pois a maior parte de todos os produtos industrializados em alguma de suas etapas de produção sofre algum processo de usinagem. Para a realização deste processo é utilizado algumas máquinas, que possuem componentes usinados, como por exemplo: o torno, é uma máquina-ferramenta que permite usinar peças de forma geométrica de revolução. Também podemos citar a fresadora, é uma máquina de movimento continuo, destinada a usinagem de materiais. Remove-se cavacos por meio de uma ferramenta de corte chamada fresa. A operação de fresagem consta da combinação de movimentos simultâneos da ferramenta e da peça a ser usinada simultaneamente. Para uma aula com aprendizagem significativa foram variados os parâmetros de corte e para que os alunos entendessem a influência destes sobre algumas características da usinagem. Diagrama V é um instrumento heurístico proposto, originalmente, por D.B. Gowin (1981; Gowin e Alvarez, 2005), para a análise do processo de produção de conhecimento (ou seja, análise das partes desse processo e a maneira como se relacionam) ou para "desempacotar" conhecimentos documentados em artigos de pesquisa, livros, ensaios, etc.. Por isso mesmo, é também chamado de Vê epistemológico, Vê do conhecimento, Vê heurístico ou, ainda, Vê de Gowin [1].

Para a realização dessa experiência foi usada duas formas de abordagem, uma em que os alunos fariam a experiência e relatariam de forma comum, mostrando que modificou, e o que entendeu com a prática. Um segundo grupo de alunos fizeram a experiência com o auxilio do V de Gowin. O diagrama V é dividido em duas partes, de um lado é colocada a parte conceitual, teórica. Do outro lado, é colocado o resultado da prática.


Published

2013-11-27

Issue

Section

RESUMOS